ESD測試儀其實是一款靜電放電發(fā)生器，靜電是由兩種不同物質的互相摩擦，通過正負電荷積蓄在相互摩擦的兩個物體而形成高電壓。人造纖維和塑料是常見的摩擦起電材料，當摩擦產(chǎn)生電壓后，就會出現(xiàn)ESD問題。對于電子元器件來說，靜電能量是不能忽視的，它可以擊穿半導體元件，從而破壞電子電路。

通常ESD測試儀通過兩種主要方式產(chǎn)生EMC問題：即傳導方式和輻射干擾方式。

（1）傳導方式。靜電放電電流直接流過電路中，因為ESD產(chǎn)生很高的電壓，如果進入到半導體，就可能產(chǎn)生誤操作，并且很容易破壞半導體器件，現(xiàn)代半導體元器件的內(nèi)部絕緣常常會在幾十伏電壓下?lián)舸┎⑶矣谰枚搪?，這是一個很嚴重的ESD問題，日常生活中這個問題是普遍存在的。

（2）輻射干擾。當靜電放電時（可用靜電放電測試儀模擬測試），產(chǎn)生的火花電壓會產(chǎn)生輻射磁場和電場。磁場能夠在附近電路的各個信號環(huán)路中感應出噪聲電壓。由于在很短時間內(nèi)產(chǎn)生了較大的靜電電流，所以在信號環(huán)路中產(chǎn)生的噪聲電壓可能會超過邏輯元器件的閾值電平，引起元器件的誤觸發(fā)。

在電路中，因為人體靜電產(chǎn)生的ESD問題是最常見的。干燥氣候環(huán)境下人體ESD的電壓很容易超過8kV、15kV甚至20kV，因此我們需要重視這樣的靜電電壓對PCB及元器件的影響，并采取相應措施防止ESD問題。