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雷擊浪涌發(fā)生器SUR 8/20V1專門針對半導(dǎo)體器件及手機通信產(chǎn)品而設(shè)計的低壓浪涌試驗,依據(jù)電磁兼容試驗中的雷擊浪涌抗擾度試驗特點和要求而設(shè)計的低壓雷擊浪涌發(fā)生器。符合標準:GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗》 、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test
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